M. Thomas, S.; J. Prest, M.; J. F. Fulgoni, D.; R. Bacon, A.; J. Grasby, T.; R. Leadley, D.; H. C. Parker, E.; E. Whall, T. Low Frequency Noise in Si and Si SiGe Si PMOSFETs. JTIT 2007, 28 (2), 64-68. https://doi.org/10.26636/jtit.2007.2.810.