Gotszalk, T. P.; Janus, P.; Marendziak, A. M.; Czarnecki, P.; Radojewski, J. M.; Szeloch, R. F.; Grabiec, P. B.; Rangelow, I. W. Diagnostics of Micro- and Nanostructure Using the Scanning Probe Microscopy. JTIT 2005, 19 (1), 41-46. https://doi.org/10.26636/jtit.2005.1.293.