Barański, M.; Domański, K.; Grabiec, P.; Grodner, M.; Jaroszewicz, B.; Kociubiński, A.; Kucewicz, W.; Kucharski, K.; Marczewski, J.; Niemiec, H.; Sapor, M.; Tomaszewski, D. TSSOI As an Efficient Tool for Diagnostics of SOI Technology in Institute of Electron Technology. JTIT 2005, 19 (1), 85-93. https://doi.org/10.26636/jtit.2005.1.287.