Barańsk, M.; Sapor, M.; Niemiec, H.; Marczewski, J.; Kucharski, K.; Kucewicz, W.; Kociubiński, A.; Jaroszewicz, B.; Grodner, M.; Domański, K.; Tomaszewski, D. TSSOI As an Efficient Tool for Diagnostics of SOI Technology in Institute of Electron Technology. JTIT 2005, 19 (1), 85-93. https://doi.org/10.26636/jtit.2005.1.287.